机译:通过正电子寿命谱和光致发光研究未掺杂GaSb中质子辐照引起的缺陷
GaSb; Proton irradiation; Defects; Positron lifetime; Photoluminescence;
机译:通过正电子寿命谱和光致发光研究未掺杂GaSb中质子辐照引起的缺陷
机译:用正电子寿命谱研究未掺杂的Sl-InP中的补偿缺陷和电子辐照引起的缺陷
机译:电子辐照液体封装的切克劳斯基生长的未掺杂锑化镓的正电子寿命谱和光致发光研究
机译:用正电子寿命谱研究未掺杂SI-InP中的补偿缺陷和电子辐照引起的缺陷
机译:利用先进的寿命测量技术研究了富含质子的中间质量核的核结构。
机译:掺有稀土元素Er3 +的碲化物玻璃70TeO2-5XO-10P2O5-10ZnO-5PbF2(X = MgBi2Ti)的正电子ni没寿命光谱法测量缺陷结构
机译:通过正电子寿命谱和光致发光研究了未掺杂Gasb中的镓空位和残余受体