流式细胞仪检测高正加速度重复暴露后大鼠脑细胞凋亡

摘要

目的:探讨重复高正加速度(+Gz)作用对大鼠脑细胞凋亡的影响.方法:36只雄性Wistar大鼠随机分成对照组、+Gz重复暴露后30 min、3 h、12 h、24 h和48 h组,在+Gz暴露后处死大鼠取脑.用流式细胞仪检测不同时间点皮层和海马细胞DNA分布图,测定A0峰所占的百分比,表示细胞凋亡程度.结果:+Gz暴露后3 h、12 h细胞凋亡数明显增多,24 h达高峰,48 h差异无显著性.结论:重复高+Gz作用,可引起大鼠脑细胞凋亡,且这种对神经元的损害是可逆性的.