基于边界扫描技术的抗混淆自适应测试算法

摘要

针对现有边界扫描测试快速测试算法存在征兆混淆现象的问题,在深入分析多种测试算法的基础上,提出一种抗混淆的自适应测试算法.首先,通过分析走步算法的特点,给出一种走步算法的改进方案.该方案在保证算法完备性指标不变的情况下,提高了算法的紧凑性指标.在此基础上,结合改良计数序列算法,生成抗混淆自适应测试算法.该算法解决了改良计数序列算法存在的征兆混淆问题,极大提高了算法的完备性指标,且紧凑性指标较好.