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漆建军;
华南师范大学,物理系,广州,510631;
微小长度的变化; 测量; 系统误差;
机译:电有效沟道长度和外部电阻测量技术在亚微米CMOS工艺中的应用
机译:测量技术研讨会在对2009年春季的第一届创新测量技术会议做出强烈反应之后,霍廷格·鲍德温·梅斯技术公司将于2011年5月10日在维也纳举行第二届会议。测量技术专家在创新文章中概述了传感器和测量电子设备领域的创新及其在各种应用中的使用。
机译:预期应用于模具的最新测量技术:一种壳体1在压制评估中应用非接触式3D失真测量技术的应用
机译:使用线性变化长度的静电梳形阵列横向驱动的微小器频率调谐
机译:使用时间倒转镜感应波动混沌散射系统中的微小变化并增强波聚焦
机译:Maestro和Barroco tar骨长度测量技术的评定者间和评定者内可靠性
机译:头颅测量技术在3D-TC中的应用:头颅测量技术在3D-TC中的应用
机译:金属中电子衰减长度测量技术
机译:测量和记录机械强度(如长度,压力等)的微小变化的设备,并将容器应用于放电
机译:用于测量和记录长度变化以及速度和压力变化的微小变化的设备
机译:用于紧密相邻的测量点的长度测量技术装置具有长度测量卡尺,所述长度测量卡尺成对地彼此成对布置,并且在横向偏移中围绕测量点彼此相对
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