介质阻挡放电中氢分子的光谱特性

摘要

为揭示介质阻挡放电氢等离子体中氢负离子的形成过程和规律,采用发射光谱技术研究了氢分子振动、转动温度以及对H-离子的影响.基于Fulcher跃迁的理论模型,计算了不同振转温度时的谱线强度分布,验证了实验测定结果.在气压70 Pa、电压12 kV、频率30 kHz,运用(0-0)带与(1-1)带谱线强度比计算出振动温度为2700K,利用(0-0)带的五条谱线求得转动温度为400K.当放电频率由10 kHz增加到22 kHz时,振动温度由1560K增大到3900K,相应的氢离子质谱信号强度也逐渐增大.振动温度的增加是导致氢负离子浓度增大的重要原因.该研究可以用于介质阻挡放电氢等离子体中的振转分布提供一定的参考.