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边界扫描测试-复杂MCM的主流测试技术

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IEEE-1149.1测试标准已被广泛认为是解决复杂MCM和PCB测试问题的主流测试技术.本文概要论及与测试相关的设计特性,详细讨论了不同MCM的边界扫描测试策略.

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来源
《桂林电子科技大学学报》 |2000年第4期|14-20|共7页
作者
郭学仁;
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作者单位

桂林电子工业学院,电子工程系,广西,桂林,541004;

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正文语种 chi
中图分类 TN206.1;
关键词
可测性 ; 边界扫描 ; MCM ;

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