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边界扫描结构下的BIST内核及FPGA实现

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摘要

从国内厂家一个实际的内核电路出发,对其进行BIST插入及边界扫描测试的研究;在VHDL描述的基础上,用FPGA实现设计思想,并通过了边界扫描主控机的实际测试运行,其过程验证了将边界扫描和BIST技术应用于MCM或PCB板功能测试的可行性.

著录项

来源
《桂林电子科技大学学报》 |2000年第1期|86-90|共5页
作者
谈恩民; 郭学仁;
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作者单位

桂林电子工业学院,计算机分院;

桂林电子工业学院,计算机分院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类混合集成电路;
关键词
BIST; 边界扫描; FPGA; 内核; VHDL;

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