首页> 中文期刊> 《福州大学学报(自然科学版)》 >硫化时间对FeS2薄膜结构和性能的影响

硫化时间对FeS2薄膜结构和性能的影响

         

摘要

在硫化温度为653 K和硫化时间分别在3、6和12h的条件下,用硫化铁膜法制备FcS2薄膜.通过对不同条件下制备的薄膜成分、结构和光电性能研究表明:当硫化时间大于6 h时,薄膜的成分接近理想化学配比,直接光学能带间隙大约为1.15~1.17 eV,电阻率约为1.3 Ω·cm.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号