阵列乘法器通路时延故障的内建自测试

摘要

阵列乘法器因高度集成和高速运行,容易受到时延故障的困扰.该文对阵列乘法器的通路时延故障提出了一种用累加器实现的以单跳变序列作为测试序列的内建自测试方案.已有的理论和实践表明采用单跳变测试序列比多跳变序列具有更高的测试鲁棒性.同时,该文的测试方案在测试通路覆盖率和测试向量数之间做到了兼顾.仿真结果表明这种单跳变测试序列具有高测试通路覆盖率.此外,测试生成通过系统已有累加器的复用可节省硬件成本开销.