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通路时延测试综述

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随着高速集成电路的发展,以确保数字系统时间特性正确性为目标的时延测试非常重要.基于通路时故障模型的通路时延测试是时延测试研究的主流.本文对目前通路时延测试领域的主要研究成果进行了综述,希望能使读者对时延测试研究有基本的了解.文中阐述了主要的通路时延可测试性及相应的单通路时延故障的分类,并介绍了三种精简通路集的通路时延测试方法.

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来源
《第九届全国容错计算学术大会》|2001年|207-213|共7页
会议地点长沙
作者
李华伟; 闵应骅; 李忠诚;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TP306.2;
关键词
时延测试; 通路时延故障;

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