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通路时延测试综述

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摘要

本文对目前通路时延测试领域的主要研究成果进行了综述,阐述了主要的通路时延可测试性及相应的单通路时延故障的分类,并介绍了三种精简通路集的通路时延测试方法.

著录项

来源
《计算机工程与科学》 |2002年第2期|80-83|共4页
作者
李华伟; 闵应骅; 李忠诚;
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作者单位

中国科学院计算技术研究所信息网络实验室;

北京;

100080;

中国科学院计算技术研究所信息网络实验室;

北京;

100080;

中国科学院计算技术研究所信息网络实验室;

北京;

100080;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类设计与性能分析;
关键词
时延测试; 通路时延故障; 可测试性;

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