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赵玲玲; 胡家升;
大连理工大学,电子与信息工程学院,辽宁,大连,116024;
X射线成像; 掠入射; 表面粗糙度; 反射率;
机译:通过X射线反射率,光学反射率和掠入射小角度X射线散射分析中孔薄膜
机译:掠入射X射线反射率,原子力显微镜和光谱椭偏仪表征离子束溅射沉积的W和Si膜以及W / si界面
机译:结合X射线反射率和掠入射X射线荧光分析研究In2O3 / Ag / In2O3结构中退火引起的相互扩散
机译:基底支撑的纳米结构和图案的同步辐射掠入射X射线散射和反射率分析
机译:使用掠入射X射线衍射进行残余应力深度分析。
机译:联合评估掠入射X射线荧光和X射线反射率数据以改善超浅深度分布的轮廓
机译:JGIXA —一个用于计算和拟合掠入射X射线荧光和X射线反射率数据的软件包,用于表征纳米层和超浅植入物
机译:X射线显微镜衍射分析细晶粒和合金的子结构特征及衍射分析描述X射线双晶衍射仪结合X射线显微镜和衍射的描述和应用
机译:掠入射x射线荧光光谱仪和掠入射x射线荧光分析方法
机译:掠入射X射线荧光光谱仪及掠入射X射线荧光分析方法
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