环形链轮询复用测试端口的高效测试结构

摘要

测试结构设计是集成电路(IC)测试的基础问题也是关键问题,而设计满足当代IC需求的测试结构对降低芯片成本、提高产品质量、增加产品竞争力具有十分重要的意义,为此提出了环形链轮询复用测试端口的测试结构RRR Scan.该结构将扫描触发器设计成多个环形链,环形链可工作于隐身模式、循环移位模式和直链扫描模式.循环移位模式实现了测试数据的重用,可减小测试集规模;隐身模式则可缩短测试数据移位路径,大幅降低测试移位功耗,因此该结构是具有数据重用和低功耗性质的通用测试结构.另外,该结构可将物理上相近的扫描单元设置于同一环形链内,布线代价不大.隐身模式使得测试数据的移位路径长度和时延均有所减小.实验结果表明,RRR Scan结构可大幅降低测试移位功耗,对于S13207电路,其移位功耗仅为扫描直链的0.42％.