基于K-S检验法和ALTA的IGBT模块可靠性寿命分布研究

摘要

为了获得绝缘栅双极晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)的寿命信息及确定其寿命分布,提出了一种利用Kolmogorov-Smirnov检验法和加速寿命测试数据分析软件(accelerated life testing dataanalysissoftware,ALTA)对其加速寿命试验数据进行研究的新方法.该方法首先对IGBT模块寿命做对数正态分布假设,然后利用K-S检验法对一组IGBT加速寿命数据进行Weibull、对数正态等分布检验对比分析,进而利用ALTA对另一组IGBT加速寿命数据进行仿真分析,结果表明在阿伦尼斯(Arrhenius)加速模型下,IGBT模块寿命服从对数正态分布.该方法使得快速估算IGBT模块寿命成为可能.