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周强; 李金英; 梁汉东; 伍昌平;
煤炭资源教育部重点实验室,中国矿业大学,北京,100083;
中国原子能科学研究院,北京 102413;
质谱学 ; 二次离子质谱技术进展; 综述; 剖析 ; 应用;
机译:动态二次离子质谱(SIMS显微镜)对细胞进行分析成像的进展
机译:立方离子卤化银微晶溅射过程的建模及其与二次离子质谱分析(SIMS)在深度分析中的相关性
机译:飞行时间二次离子质谱分析(ToF-SIMS)分析羊绒纤维的漂白及其阳离子烷基蛋白质软化剂的应用
机译:使用聚焦离子束二次离子质谱仪(FIB-SIMS)增强元素分析中的水蒸气
机译:二次离子质谱法(SIM,超晶格)对半导体的定量分析中的矩阵效应。
机译:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在离子成像和俱乐部药物引起的认知缺陷的生物能分析中的综合应用
机译:使用磁性扇区二次离子质谱(sIms)仪器分析III族氮化物 - 砷化物材料中的氮掺入:预印。
机译:用于二次离子质谱(SIMS)的样品架以及其他分析粒子射线的高精度方法及其操作方法
机译:带有多原子主离子束的二次离子质谱法(SIMS),其表面覆盖有铯
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