Cornell University.;
机译:使用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)和基质辅助激光解吸/电离质谱(MALDI-MS),用于研究单一毛发样品以解决可卡因的情况下的污染与掺入头发分析问题 和美沙酮
机译:通过次级簇离子的分析定量分析多相III-V半导体基质的ToF-SIMS深度轮廓
机译:使用均匀低聚苯乙烯的基质辅助激光解吸/电离飞行时间质谱在多分散聚合物定量分析中质量歧视效应的评估
机译:飞行时间二次离子质谱法定量分析光伏Cu(In,Ga)Se_2薄膜FTMS中的元素和钠
机译:半导体簇离子分析和锰在低温下在砷化镓中的扩散的飞行时间二次离子质谱研究
机译:使用飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS)对蚊帐纤维中的杀虫剂进行成像和定量分析
机译:潜在指纹的化学表征,包括基质辅助激光解吸电离,飞行时间二次离子质谱,兆电子伏特二次质谱,气相色谱/质谱,X射线光电子能谱和衰减全反射傅里叶变换红外光谱成像:比较
机译:二次离子质谱法定量分析层状半导体的逐点矩阵效应校准