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时金安; 胡书广; 夏艳; 周武;
中国科学院大学 北京100049;
中国电子工程设计院有限公司 北京100142;
微振动; 磁场干扰; 精密温控; 独立接地;
机译:使用球差校正扫描透射电子显微镜(Cs-STEM)绘制铁纳米颗粒中六价铬[Cr(VI)]的反应图
机译:通过球差(Cs)校正的扫描透射电子显微镜和原子分辨率的能量色散X射线光谱研究了与Al-Co-Ni十边形准晶体有关的晶体近似物的结构
机译:纳米零价铁的精细结构特征,其特征在于球差校正扫描透射电子显微镜(Cs-STEM)
机译:色/球差校正30 kV透射电子显微镜的性能和应用
机译:用原位和像差校正扫描透射电子显微镜表征电化学和电子材料
机译:单色像差校正透射电子显微镜的副宽高电压性能
机译:面向全息方法的扫描透射电子显微镜中的球差校正
机译:利用像差校正扫描透射电子显微镜原位研究金属纳米导体界面的动态现象。
机译:扫描透射图像和透射图像/旋转校正方法的放大及扫描透射型电子显微镜
机译:像差校正器透射电子显微镜或扫描电子显微镜,在第一轴向平面上具有彼此不成像的第一和第二八极,以及彼此成像的第二和第三八极。
机译:通过扫描透射电子显微镜,扫描透射电子显微镜系统和程序的观察方法
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