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李玉清;
无;
合金; CBED; 膜厚; 消光距离; 拟合; 会聚束电子衍射;
机译:使用能量滤波的CBED图案强度测量和动态衍射理论拟合确定晶体厚度和消光距离
机译:微型通道中环形流动的膜厚测量:光学技术和实验结果的描述
机译:EHD滚动点接触的实验结果和分析膜厚预测
机译:银膜中孔阵列的消光光谱的距离,形状和排列方式的依赖性
机译:金晶体中电子的消光和吸收距离。
机译:粟酒裂殖酵母死亡和活细胞中的定向介电能。实验结果与理论模型的拟合。
机译:厚Zn 2 sno 4 sub>膜的NO 2 sub>感测性质
机译:地理和表面的性质。测地曲率在测地线测定中的应用
机译:是膜厚计测方法和测量的膜厚计测方法
机译:检测方式及膜厚计测方法,检测装置,膜厚计测装置及研磨装置
机译:分散特性参数,例如粒径,确定方法,涉及通过不同的消光距离测量消光,并评估与消光距离有关的特定长度消光值的过程
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