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罗俊锋; 王俊忠; 牛南辉; 赵林林; 张隐奇; 郭霞; 沈光地; 吉元;
北京工业大学,固体微结构与性能研究所,北京,100022;
北京工业大学,光电子技术实验室,北京,100022;
电子背散射衍射(EBSD); 弹性应变分布; 硅薄膜; GaN外延层;
机译:使用电子背散射衍射测量无失配位错InGaAsP / InP异质结构中的弹性应变场
机译:利用电子背散射衍射确定纳米压痕附近的弹性应变场和几何上必要的位错分布
机译:电子扫描衬里成像和电子背散射衍射成像及扫描电子显微镜结构缺陷分析的进展
机译:使用飞行时间中子衍射和电子背散射衍射进行定量纹理分析。
机译:通过电子背散射衍射(EBSD)分析Y2O3-Al2O3微球结晶
机译:III族氮化物半导体中的高分辨率电子背散射衍射
机译:等通道转角加工纯铝微观结构的电子背散射衍射分析
机译:电子背散射衍射标本(EBSD)的制造方法及热轧钢板尺度结构的分析方法
机译:电子显微镜,特别是用于电子背散射衍射过程的扫描电子显微镜,包括用于对样品的晶体结构进行非破坏性确定的非破坏性确定单元。
机译:电子背散射衍射的双相钢相分析方法
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