胚胎电子细胞剩余码/berger码联合编码自检方法

摘要

为了更好地实现胚胎电路的自检需求,针对地址产生模块和输入输出模块,基于基本逻辑和算术运算中操作数和结果数之间的剩余码和berger码关系,对胚胎电子细胞输入输出等价运算的构建进行了讨论分析.通过剩余码检测单个故障,berger码检测多位单向故障,设计了一种剩余码/berger码联合编码的胚胎电子细胞自检方法.给出了所提方法的流程和实现方法,分析了基于所提方法设计的胚胎电子细胞的故障检测率、自检模块自检率和硬件资源消耗.以时序逻辑电路为目标电路进行了仿真实验,验证了所提方法对胚胎电子细胞各模块的检测能力和对检测模块的自检能力.