首页> 中文期刊> 《宇航计测技术》 >基于量子化、芯片化的先进计量测试技术发展动态

基于量子化、芯片化的先进计量测试技术发展动态

         

摘要

计量是国家质量基础的重要组成部分,产品质量的提升离不开科学、精准的计量.工业发达国家极为重视计量测试技术的发展.通过搜集、整理量子效应计量、芯片级计量等国内外大量文献资料,归纳分析了近年来国外先进计量测试技术发展动态与趋势.以量子技术和基本物理常数为基础建立量子计量基标准,将大幅提高测量准确度和稳定性,结合量子效应的微加工技术实现芯片尺度的测量等,微纳尺度计量技术也在科学研究、精密测量、智能制造等领域得到广泛应用.本文可为我国计量技术发展提供借鉴.

著录项

  • 来源
    《宇航计测技术》 |2020年第5期|11-21|共11页
  • 作者单位

    北京无线电计量测试研究所 北京100039;

    中国电子科技集团公司第十三研究所 河北石家庄050051;

    国防科技工业颗粒度一级计量站 河南新乡453019;

    北京无线电计量测试研究所 北京100039;

    北京无线电计量测试研究所 北京100039;

    北京无线电计量测试研究所 北京100039;

    北京无线电计量测试研究所 北京100039;

    北京无线电计量测试研究所 北京100039;

    计量与校准技术重点实验室 北京100039;

    北京无线电计量测试研究所 北京100039;

    计量与校准技术重点实验室 北京100039;

    中国电子科技集团公司第四十一研究所 山东青岛266555;

    中国兵器工业集团第五三研究所 山东济南250031;

    中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 北京100095;

    计量与校准技术重点实验室 北京100039;

    中国原子能科学研究院 北京102413;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 计量学;
  • 关键词

    量子效应; 片上计量; 太赫兹计量; 纳米尺度; 飞秒激光; 先进材料分析; 计量; 校准; 国际单位制;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号