芯片测试中外接引线对电路频率特性的影响

摘要

当测试集成电路的高频特性时，其外接测试引线形成的分布电容和电感常常会引起不必要的反馈和自激，增大集成电路的损耗和噪声，影响集成电路频率特性的测试结果。