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厚膜电位器膜层质量控制研究

         

摘要

本文分析了影响膜层外观质量的各种现象,探讨了产生这些现象的原因,提出了针对性的改进措施,经实践证明是切实有效的。

著录项

  • 来源
    《集成电路通讯》 |2006年第2期|5-7|共3页
  • 作者

    王万一;

  • 作者单位

    中国兵器工业第214研究所,蚌埠233042;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 CHI
  • 中图分类 TQ171.724;
  • 关键词

    膜层; 质量;

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