数字微波辐射计阵列二维成像控制系统设计

摘要

综合孔径微波辐射计利用干涉测量把小口径天线阵列综合成大的观测口径,是一种可以有效提高空间分辨率的无源微波遥感传感器.分析了综合孔径微波辐射计成像过程,采用一维孔径综合与机械扫描相结合的方法实现微波辐射成像,设计数字微波辐射计阵列成像的控制系统;用LabVIEW开发控制软件.实验结果表明:控制系统能够精确控制微波辐射计阵列进行二维成像,数据采集系统各通道之间的采样偏差为20 ps以下,扫描角度可以精确到0.1°.