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碲镉汞光化学氧化钝化及机理分析

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摘要

采用光化学氧化钝化方法,首次实现了对n型碲镉汞光电导探测器的表面钝化;利用XPS分析了不同光化学氧化条件对氧化的影响及氧化物的构成,探讨了光化学氧化钝化的机理,并对光化学氧化钝化和阳极氧化的两类探测器性能进行了比较.

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来源
《红外技术》 |2001年第2期|13-16|共4页
作者
史衍丽; 沈光地; 冯文清; 陈铁金; 吴兴惠;
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作者单位

北京工业大学,电子工程系光电室,北京,100022;

北京工业大学,电子工程系光电室,北京,100022;

昆明物理所,云南,昆明,650223;

昆明物理所,云南,昆明,650223;

云南大学,物理系,云南,昆明,650091;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类红外光学材料;
关键词
碲镉汞光电导探测器; 光化学氧化; 阳极氧化; XPS分析; 机理;

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