用X射线双晶衍射测定CdTe及外延MCT层的径向均匀性

摘要

用X射线双晶衍射法测量了(111)晶面的CdTe及外延MCT层的完整性,结果表明CdTe径向晶格常数的一致性差是其完整性低的主要原因。MCT外延层完整性差不仅与径向晶格常数的一致性差有关,而且对小范围内的完整性也有较大影响,生长条件有待进一步改善。