集成电路测试工艺优化方法

摘要

依据摩尔定律集成电路上可容纳的晶体管数目,约每隔18个月便会增加一倍.若继续采用传统的集成电路测试工艺,则测试时间和测试硬件等因素将使集成电路的测试成本不断增加.旨在对传统的集成电路测试工艺进行优化,提出一种兼顾质量并能有效降低集成电路测试成本的方法.