一种适合于高速、高精度ADC的采样/保持电路

摘要

采用非复位结构，在SMIC0．18μm CMOS工艺下，设计并实现了一种采样／保持电路，其性能满足10位精度、100MS／s转换速率的ADC的要求．电路在0～125℃，三种工艺角下仿真，其性能均满足要求；T／H电路的核心—OTA，经流片并测试，结果表明其功能正确，功耗与仿真值一致。