Zn(BDC)(4,4'-Bipy)0.5DMF(H2O)0.5在硅及其改性基底上取向生长研究

摘要

采用溶剂热和常压合成方法,分别制备MOF-508(Zn(BDC)(4,4'-Bipy)0.5 DMF(H2O)0.5)粉末样品及其在Si、Au/Si、COOH-Au/Si基底上的薄膜,通过X射线广角衍射法检测其在基底表面上的取向生长.发现仅在常压法下COOH-Au/Si基底上MOF-508配位聚合物沿着[001]方向生长,用电子扫描电镜技术发现其在COOH-Au/Si基底上的晶体形状统一,多为长方形,说明常压法和基底对其取向生长起到关键性的因素,这对于以后配合物薄膜取向生长提供了参考数据.