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表面轮廓仪; 测量系统; 太阳能电池; 科学研究; 生产环境; 功能组合; 测量技术; KLA—Tencor公司;
机译:KLA-Tencor推出具有低至0.1微米节点的先进薄膜测量功能的ASET-F5X
机译:KLA-Tencor检查/测量设备满足各种需求的各种设备阵容准确判断大规模半导体生产
机译:KLA-Tencor推出新产品。集成电路晶片的晶片缺陷检测系统
机译:评估KLA-Tencor LMS IPRO5 beta系统用于22nm节点配准和覆盖应用
机译:使用共焦表面轮廓仪测量镁电解槽中惰性石墨阳极的磨损。
机译:改良的表面显微硬度测量焦距变化3D显微镜和接触式测针轮廓仪的体外评估以评估侵蚀性磨料后的牙釉质表面损失
机译:用于测量同步辐射镜的新型非接触式轮廓仪设计
机译:光学轮廓仪,用于表面粗糙度测量,具有自适应倾斜度调节和新型检测系统-具有控制系统,该系统可保持光束垂直于测量表面,并使用干涉外差检测
机译:用于表面形状测量的触笔式阶梯轮廓仪的测量精度改进方法以及用于该方法的用于表面形状测量的触笔式阶梯轮廓仪的测量精度的改进方法
机译:收集用于根据层级测量服务器性能的客户请求资源以及针对多层分布环境中的层级根据服务器的性能和需求资源测量/分析/监视性能信息的系统和方法
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