首页> 中文期刊> 《工程物理研究院科技年报》 >一种抑制高级次衍射影响的时间分辨透射光栅能谱仪

一种抑制高级次衍射影响的时间分辨透射光栅能谱仪

         

摘要

激光等离子体X射线辐射的光谱诊断是研究激光物质相互作用的重要方法之一,从发射光谱中可以获得关于等离子体的诸多信息,如电子温度和密度、膨胀速度、电离态等。要完成上述谱分析,要求光谱仪器不但具备较高的光谱分辨,而且同时能获得无高级次衍射影响的“干净”线谱,以满足光谱仪测量精密化的高要求。然而目前采用透射光栅的能谱仪都存在高级次衍射影响,为消除这种负面作用,通过对透射光栅进行标定从而解谱可消除这种影响,但是对于一些复杂的记录设备,比如高时间分辨的x射线条纹相机,要准确对透射光栅进行标定是非常不容易的。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号