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透射衍射光栅内全反射级次

         

摘要

当前高功率激光装置系统中,国内使用透射式衍射光栅进行光束采样,国外甚至使用光栅聚焦并同时结合谐波分离和采样功能.高功率激光辐照下,除了0级透射打靶光以及目标取样光外,其他级次衍射光的影响也不可忽视,可能造成诸如鬼像聚焦破坏、时间脉宽测量不稳定、近远场测量噪声等问题.尤其是透射衍射光栅内部全反射级次会导致光栅出射一系列规律的衍射花样,造成上述干扰和危害.首先理论上针对透射式光栅(包括取样光栅和聚焦光栅)进行了相应的计算和分析,然后从实验上观察并测量了取样光栅内部全反射级次的现象,并且结合镀减反膜前后的衍射现象进行了讨论,最后分析并给出了如何消除或规避全反射级次和其他冗余级次影响的方法.

著录项

  • 来源
    《物理学报》 |2016年第5期|98-106|共9页
  • 作者单位

    中国科学院上海光学精密机械研究所,高功率激光物理联合实验室,上海201800;

    中国科学院大学,北京 100049;

    中国科学院上海光学精密机械研究所,高功率激光物理联合实验室,上海201800;

    中国科学院上海光学精密机械研究所,高功率激光物理联合实验室,上海201800;

    中国科学院上海光学精密机械研究所,高功率激光物理联合实验室,上海201800;

    中国科学院上海光学精密机械研究所,高功率激光物理联合实验室,上海201800;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

    衍射光栅; 全内反射; 光束取样光栅; 鬼像;

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