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一种面向RISC-V的检查点和回滚恢复容错方法

         

摘要

随着特征尺寸的不断减小,CMOS集成电路更容易受到软错误的影响,可靠性设计已成为处理器设计中的重要考虑因素之一.基于对RISC-V特权级别、系统上下文、映射方法的研究,提出了一种面向RISC-V处理器的检查点和回滚恢复方法,并基于此实现了一种面向RISC-V的检查点和回滚恢复容软错误架构.在基于Artix-7开发板实现的e203RISC-V内核中对该容错架构进行了仿真试验.试验结果表明,所提方法可以实现预期的容软错误功能,提高了RISC-V处理器的可靠性.

著录项

  • 来源
    《电子与封装》 |2020年第10期|30-36|共7页
  • 作者单位

    江南大学电子工程系物联网技术应用教育部工程研究中心 江苏无锡214122;

    江南大学电子工程系物联网技术应用教育部工程研究中心 江苏无锡214122;

    江南大学电子工程系物联网技术应用教育部工程研究中心 江苏无锡214122;

    江南大学电子工程系物联网技术应用教育部工程研究中心 江苏无锡214122;

    江南大学电子工程系物联网技术应用教育部工程研究中心 江苏无锡214122;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 容错技术;
  • 关键词

    软错误; 可靠性设计; RISC-V; 检查点和回滚恢复;

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