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杨丹; 恩云飞; 黄云;
信息产业部电子第五研究所可靠性研究分析中心,广东广州510610;
贮存可靠性; 长期自然贮存; 极限应力试验; 加速贮存寿命试验;
机译:Nippon可靠性协会Kansai分公司2012年首次讲座报告 - 最新缺陷分析技术和电子元器件和安装部件的案例 -
机译:电子元器件可靠性评估技术
机译:电子元器件可靠性评估与故障分析技术
机译:基于有限元仿真技术的电子元器件可靠性设计与分析
机译:用多纳米技术可靠性分析评价织式复合PI连杆结构的设计
机译:评价者培训对技术技能评估的可靠性的影响:一项随机对照试验
机译:考虑到外部影响的电子元器件可靠性评估
机译:贝叶斯可靠性概念在巡航导弹电子元器件中的应用。
机译:密封材料膜的可靠性寿命的评价方法及膜的可靠性评价装置
机译:将金属配线的可靠性评价装置和记录介质为空的竹配线的分割要素分开,该要素存储用于可靠性评价的程序
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