贮存可靠性

摘要： 文章介绍采用标准寿命表法进行装备电子部件贮存可靠性统计,按照指数分布或威布尔分布进行拟合,进行线性相关系数的计算,开展拟合优度检验和异常值检验等工作,确定产品寿命分布函数,进而预测产品未来的贮存可靠度和可靠贮存寿命的方法。

摘要： 针对小样本高截尾试验信息贮存可靠性评估问题,提出了基于概率物理模型的贮存可靠性评估方法。通过对概率物理模型与传统指数模型的贮存可靠性评估方法进行对比分析,分别利用2种评估方法进行模型参数拟合、无失效数据可靠性评估和系统可靠性评估,发现无论是从拟合精度,还是小样本数据评估方面,概率物理模型评估方法都更符合工程实际。该模型对导弹或其他类型装备的贮存可靠度评定具有较好的应用和理论价值。

摘要： 为了研究自航水雷贮存可靠性,根据自航水雷功能原理,建立以部件级故障为底事件的系统故障树.在此基础上,根据自航水雷战备转进检测数据,运用改进的故障模式影响及危害度分析(FMECA)方法,分析并计算各部件故障的危害度,从而确定主要影响自航水雷长期贮存可靠性的关键部件.供电及信息控制器故障危害度最大,其次是密封圈失效、控制系统组件故障、动力电池组故障等,爆炸螺栓火工品件危害度最小.针对如何降低危害度向设计厂家和技术保障部门提出优化建议,提出了提高关键部件的固有可靠性和增加关键部件的保险措施,并给出了关键部件检测频次方案.

摘要： 为了研究自航水雷贮存可靠性,根据自航水雷功能原理,建立以部件级故障为底事件的系统故障树。在此基础上,根据自航水雷战备转进检测数据,运用改进的故障模式影响及危害度分析(FMECA)方法,分析并计算各部件故障的危害度,从而确定主要影响自航水雷长期贮存可靠性的关键部件。供电及信息控制器故障危害度最大,其次是密封圈失效、控制系统组件故障、动力电池组故障等,爆炸螺栓火工品件危害度最小。针对如何降低危害度向设计厂家和技术保障部门提出优化建议,提出了提高关键部件的固有可靠性和增加关键部件的保险措施,并给出了关键部件检测频次方案。

摘要： 贮存可靠性是军事储备质量监测的重要环节,科学准确地预测贮存可靠度是现代化军事评估的必然要求.针对历史贮存数据,建立可靠度与年限的贮存可靠性预测模型,采用进化策略改进粒子群算法(PSO)优化BP神经网络进行贮存可靠性预测.通过数据扩充提高样本质量和数量,应用改进后的PSO算法优化BP神经网络的初始权值和阈值,提高网络的泛化能力.PSO算法较好的全局搜索能力与BP网络很强的局部搜索能力相结合,能够避免早熟现象,提高算法的收敛速度及预测精度.实验结果表明,改进的PSO-BP网络模型比PSO-BP和BP神经网络获得更好的预测性能.

摘要： 针对BP算法易陷入局部最优和收敛速度慢的问题, 提出两种改进蚁群优化BP神经网络的可靠性评估算法 (自适应蚁群优化BP神经网络评估算法和精英蚁群优化BP神经网络评估算法优化网络的初始配置;实验结果表明:两种智能模型都显著提高了BP网络的精度和稳定性, 减少了网络的迭代次数;前一种算法在评估的精度和迭代次数方面优于后一种算法, 而后一种算法比前一种算法更稳定.%BP algorithm is easy to fall into the problem of local optimum and slow convergence. Two reliability evaluation algorithms were proposed. They were adaptive ant colony optimization BP neural network evaluation algorithm (AACA-BP) and elite ant colony optimization BP neural network evaluation algorithm (EACO-BP). Two algorithms were used to optimize the initial configuration of the network. The experimental results show that the accuracy and stability of BP network are improved and the number of iterations is reduced with two intelligent algorithms. EACO-BP algorithm is superior to AACA-BP algorithm in evaluation accuracy and iteration times. AACA-BP algorithm is more stable than EACO-BP algorithm.

摘要： The leakage current parameter of the optocoupler was used to describe the object, which is described by the Wiener process. However, to use the Wiener process to describe the individual differences of different optocoupler leakage current degradation, as well as the processing of leakage current nonlinear data and the lack of clear failure thresholds are urgent problems to be solved. The linear Wiener process was improved, the random variable Arrhenius equation was established to randomize the drift coefficient, and the time-scale transformation formula was used to solve the problem of nonlinear data being converted into linear data. Finally, the parameters were estimated using a two-step maximum likelihood estimation. For the lack of a clear failure threshold, a swimming threshold was established to discuss reliability. The final evaluation of the optocoupler's t (0. 9) reliability in long-storage environments is 25. 4 to 27. 5 years.%以光耦的漏电流参数为刻画对象, 使用维纳过程对其进行描述.但使用维纳过程描述不同光耦漏电流退化的个体性差异, 以及漏电流非线性数据的处理以及明确失效阈值的缺乏, 是目前亟待解决的问题.对线性维纳过程进行了改进, 建立了随机变量阿伦尼乌斯方程, 以对漂移系数λ进行随机化处理, 其次利用时间-尺度变换公式解决了非线性数据转变为线性数据的问题, 最后使用两步极大似然估计对参数进行估计.针对缺乏明确失效阈值的问题, 设立了游动阈值对可靠度进行了讨论.最终评定在长储环境下光耦的t (0. 9) 为25. 4年至27. 5年.

摘要： 本文对目前航天产品贮存期和贮存可靠性评估中存在的问题进行了分析，并针对存在的问题从多个方面提出了改进建议，可为航天型号产品更好地开展贮存期和贮存可靠性评估提供参考。

摘要： 弹用发动机具有长期贮存、一次性使用等特点，为深入挖掘某弹用发动机贮存寿命设计潜力，研究其贮存寿命变化规律，确定贮存寿命薄弱环节，开展了弹用发动机贮存可靠性评估研究，根据弹用发动机贮存可靠性分析，采用贮存可靠度和可靠贮存寿命作为其贮存可靠性评估指标。本文提出了基于Bayes方法对发动机失效关键部件贮存可靠性指标进行数据融合，得到整机贮存可靠性指标，为制定新的翻修方案提供科学依据。

摘要： 金属膜电阻器因具有阻值精度高、稳定性好、可在较宽的温度范围内及较高的频率下工作等特点而广泛应用于各个行业的电子设备中，研究电阻器的贮存可靠性对于其更广泛的应用具有重要意义。本文研究了在湿热条件下，刚14型金属膜电阻器的表面状态和电性能的变化规律。结果表明经过长达2400h的试验，电阻器的封装表面没有发生明显变化，而电阻外引线发生了腐蚀，且随着温度的升高腐蚀有加重的趋势;在30°C、40°C的较低温度下，湿热环境对电阻器电性能的影响不大;在50°C、60°C的较高温度下，湿热条件对电阻器电性能的影响比较大;分析认为，较高温度的湿热条件对电阻器电性能影响较大的原因在于外引线表面的腐蚀氧化膜覆盖了器件的外引线表面。

摘要： 介绍了国外航天产品贮存可靠性试验技术研究和发展的现状,重点研究了美国AD报告、NASA及SAE相关技术资料、欧洲商业卫星方面等相关信息,分析了国外正在应用的航天产品贮存可靠性试验技术,总结分析了国外航天产品贮存可靠性试验方面的实践经验,并根据我国航天产品贮存可靠性试验技术现状,探讨了目前航天产品贮存可靠性试验方法的不足及发展趋势。

摘要： 目前,便携式防空导弹装备部队数量较多,能够为战术导弹的贮存可靠性研究提供足够的数据基础.本文主要以某型号为例,通过收集和整理其在贮存期内的测试数据,重点分析其在贮存期内的主要故障模式,研究其失效机理,为后续型号的研制提出一些改进意见,来提高其贮存可靠性.

摘要： 针对导弹贮存可靠性定量评估问题，探讨了贮存导弹多次试射的可靠性Bayes统计分析方法。考虑到导弹贮存可靠性随贮存时间而退化的特性，利用均匀分布描述导弹可靠度的先验信息，进而通过矩等价法利用共轭贝塔分布拟合均匀分布，确定先验分布参数，最终建立了基于共轭贝塔先验分布的导弹贮存可靠性评估模型，给出了导弹贮存可靠度的点估计和Baves置信限，并利用某型导弹的试射数据验证了本方法的有效性。

摘要： 根据导弹武器贮存与超期服役维修保障的特点，综合应用导弹武器贮存可靠性技术，建立了导弹在超期服役时定期检测修复条件下贮存可靠性模型、费用结构模型和维修可用度模型，计算了导弹在超期服役期间的维修、保障费用，用可使用性分析得出可使用度，并结合实例分析了导弹在超期服役期间使用效率情况。

摘要： 本文通过高温加速老化试验和统计分析,研究了某导弹战斗部中的炸药装药的贮存寿命分布规律,在此基础上,建立了贮存寿命的可靠性评估模型,并对贮存温度下的平均贮存寿命及贮存寿命置信下限进行了评估。研究得出,该导弹战斗部炸药装药的贮存寿命服从对数正态分布规律；常温25°C条件下贮存时,其平均贮存寿命为 67.2年,置信度为0.8、0.85、0.9、0.95 水平下的贮存寿命置信下限分别为29.58、23.06、15.75 和7.14 年。研究结果对该导弹战斗部炸药装药的后续贮存方案的制定等具有重要的指导意义和参考价值。

摘要： 本文首先论述了以步进应力加速寿命试验方法评定航天火工装置贮存寿命的必要性,针对试验中需要重视的问题进行了探讨。着重指出了加速模型建立之前必须对其失效情况进行分析,从航天火工装置的自身特点出发,讨论了在试验设计和数据处理方面的问题及其解决思路。

摘要： 对SnPb焊点分别进行了182d的自然贮存试验和288～576h的高温加速贮存试验,通过扫描电镜、能谱仪、力学性能试验机等对焊点在长期贮存条件下的失效机理进行了分析,并以金属间化合物(IMC)层厚度和抗拉强度为关键性能参数,提出了基于伪失效阈值随机抽样方法,并对SnPb焊点的长期贮存性能和贮存寿命进行了评估.结果表明:在铜基底和焊料间形成了Cu-Sn二元IMC层,IMC层的生长和内部组织的变化导致SnPb焊点失效;通过高温加速试验的方式可以较好地对SnPb焊点的贮存寿命进行预测.

摘要： 本发明涉及可靠性设计辅助装置、可靠性设计辅助方法以及可靠性设计辅助程序。关系式计算单元(10)对数据列进行近似计算来计算关系式，所述数据列将根据用户或者环境而变化的对象因素的值与在使用对象装置时计测到的输入应力计测值建立关联。输入应力计算单元(20)根据关系式和对象因素的指标数据来计算输入至对象装置的输入应力。故障率计算单元(40)根据输入应力和对象装置的特性值分布来计算对象装置的故障率。

摘要： 本发明所述的工作区电脑（101）和/或运行时电脑（102）基于描述了对象系统可靠性的相关要求和规格的可靠性描述数据，求出定量地表示对象系统可靠性价值的D值。

摘要： 可靠性评估测试装置(10)，包括晶片存放单元(12)，该存放单元存放晶片(W)，该晶片则处于该晶片上形成的若干器件的电极衬垫与接触器(11)的凸起彼此完全电气接触的状态。该晶片存放单元(12)向/从测量单元(15)发送/接收一个测试信号，并具有与外界隔离的绝热结构。该晶片存放单元(12)具有对接触器(11)加压的压力机构(13)以及直接将与接触器(11)完全接触的晶片(W)加热到预定高温的加热机构(14)。该半导体晶片上形成的一层互连膜与绝缘膜的可靠性可以在加速条件下加以评估。

摘要： 一种产品贮存寿命与可靠性评估方法，流程如下：A1：开展产品加速贮存应力试验，获取性能退化数据；A2：基于随机维纳过程进行产品性能退化建模；A3：基于随机维纳过程进行品加速应力下的寿命预测；A4：建立寿命‑温度加速模型及其参数估计；A5：进行加速应力下的加速因子估计；A6：基于加速因子折算进行正常应力下的产品寿命估计值；A7：进行产品寿命分布检验及其分布参数估计；A8：进行贮存寿命与可靠性评估。

摘要： 本发明公开了一种结合工艺及可靠性框图的电子类单机贮存可靠性评估方法，所述方法通过EDA仿真模型及多物理场耦合模型对电子类单机进行描述，建立电子类单机功能仿真模型，结合厂家调研结果，利用灵敏度分析方法确定影响电子类单机输出特性参数的关键底层单元；然后，对关键底层单元进行失效模式及失效机理分析，结合底层单元工艺数据及加速贮存试验中实测的贮存退化数据，建立具有分布特性的底层单元贮存退化模型；最后，通过可靠性框图对电子类单机结构特征进行描述，并将各底层单元贮存失效率注入其中，完成电子类单机贮存可靠性评估。本发明解决了因进行加速贮存试验时电子类单机样本量过小，而导致的贮存可靠性评估结果准确度较低的问题。

摘要： 本发明公开了一种结合工艺及可靠性框图的滚控电子模块贮存可靠性评估方法，所述方法首先通过建立滚控电子模块功能仿真模型，结合厂家调研结果，利用灵敏度分析方法确定影响滚控电子模块输出特性的底层关键元器件；然后，结合失效模式及失效机理分析、输出特性参数初始分布及加速贮存退化试验实测数据，得到具有分布特性的底层关键元器件贮存退化数据；最后，结合失效阈值及所建立的滚控电子模块可靠性框图中，得到滚控电子模块贮存可靠度。本发明解决了小子样问题下滚控电子模块贮存可靠性评估准确度低的问题，为滚控电子模块的贮存可靠性评估提供了一种新的思路。

摘要： 本发明公开了一种结合工艺及可靠性框图的继电器类单机贮存可靠性评估方法，所述方法将从厂家调研的工艺数据注入到所建立的继电器有限元仿真模型中，得到其输出特性初始分布特性；通过分析继电器类单机实际出现的失效模式及失效机理，建立基于失效物理的退化模型，结合继电器初始分布特性及加速贮存退化试验实测数据，得到具有分布特性的继电器输出特性退化模型；将失效阈值带入继电器输出特性退化模型中，得到继电器贮存可靠度数据，并带入所建立的继电器类单机贮存可靠性框图中，实现对继电器类单机贮存可靠度的评估。本发明解决了小子样问题下继电器类单机贮存可靠性评估准确度低的问题。

摘要： 贮存环境因素对弹药贮存可靠性影响的确定方法及装置，包括：获取舰载航空弹药贮存信息；根据所述贮存信息确定分辨系数ρ的取值范围；根据所述分辨系数ρ的取值范围计算灰熵关联度ER；根据灰熵关联度ER确定每项贮存环境因素对弹药贮存可靠性的影响。采用本申请中的方案，充分利用由点关联测度值提供的丰富信息，满足了可靠性分析需求。

摘要： 本发明公开了基于粒子群算法的聚氨酯胶密封件贮存可靠性评估方法。常用的参数估计方法有极大似然法和最小二乘法这两种方法，但在使用这两种方法求解时，估算出的结果只能得到单个最优，并不能得到整体的最优解，并且计算速度也比较慢。本发明通过收集电连接器用聚氨酯胶密封件的加速试验数据，对试验数据进行预处理，并代入可靠性评估模型，采用粒子群算法对可靠性评估模型的未知参数进行估计，根据参数估计结果，评估电连接器用聚氨酯胶密封件贮存可靠性水平，大大提高了电连接器用聚氨酯胶密封件的贮存可靠性评估效率和准确性。

摘要： 基于隐退化的金属封装功率MOSFET贮存可靠性检测技术，其步骤如下：1.确定金属封装功率MOSFET温度循环加速贮存试验方案；2.建立金属封装功率MOSFET隐退化模型；3.估计金属封装功率MOSFET隐退化模型参数；4.评估温度循环加速贮存条件下金属封装功率MOSFET贮存可靠性及贮存寿命；5.评估实际贮存条件下金属封装功率MOSFET贮存可靠寿命。本发明为金属封装功率MOSFET提供一种贮存可靠性及贮存寿命的无损检测技术，可推广至其它气密封装产品的贮存可靠性检测，提高了气密封装产品的贮存可靠性检测水平。