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光耦在FPGA应用中的可靠性设计

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摘要

结合实际工作中的体会和经验,就光耦可靠性设计等问题展开了论述；特别是对于象FPGA等较低的输入电流器件,论述了如何进行可靠性设计,并提出一些改善设计的方法.

著录项

来源
《电子产品可靠性与环境试验》 |2013年第3期|41-43|共3页
作者
赵国玉;
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作者单位

西南自动化研究所,四川绵阳621000;

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正文语种 chi
中图分类 TB114.32;
关键词
光耦 ; 现场可编程门阵列 ; 可靠性设计 ;

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