首页> 中文期刊>电子产品世界 >变频电源开关芯片炸裂的失效分析与可靠性研究

变频电源开关芯片炸裂的失效分析与可靠性研究

     

摘要

随着科技的发展,电器设备使用越来越广泛,功能越来越强大,体积也越来越小,对电源模块的要求不断增加.开关电源具有效率高、成本低及体积小的特点,在电气设备中获得了广泛的应用.经分析,开关电源电路多个器件失效主要是电路中高压瓷片电容可靠性差,导致开关芯片失效.本文通过增加瓷片电容材料的厚度提高其耐压性能和其他性能,使产品各项性能有效提高,满足电路设计需求,减少售后失效.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号