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CMOS模拟开关的失效分析及使用可靠性

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本文结合CMOS模拟开关的特点,介绍了这类电路的失效分析方法.同时,在总结了大量失效分析案例的基础上,讨论了其有特殊的使用可靠性问题.并对使用中应注意的问题提出了建议.

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来源
《电子元器件应用》 |2001年第9期|27,37|共2页
作者
田耀亭;
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作者单位

西安微电子技术研究所,西安,710054;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类应用;
关键词
CMOS模拟开关;

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