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基于JTAG技术的FLASH加载

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摘要

对现在流行的JTAG加载FLASH技术的原理、性能(实验结果)、应用场合及运用JTAG技术加载FLASH的好处进行比较详细的分析。

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来源
《电子元器件应用》 |2004年第10期|38-40|共3页
作者
郑先刚; 张学斌;
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作者单位

同济大学中德学院;

上海200092;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类测试和检验;
关键词
边界扫描; 边界扫描国际标准; 在板编程; 在线编程; 系统编程;

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