基于STM32微控制器的过采样技术研究与实现

摘要

本文通过对该微控制器数字转换器(ADC)的精度的基本原理进行研究,并对STM32微控制器内核进行可行性分析,同时通过研究数据来对过采样技术能否通过STM32微控制器技术实验,从而得出,过采样技术的使用能够有效地减少STM32微控制器中处理器的负担,大大提高其自带模拟数字转换器的精度。