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集成电路测试程序的可测性设计

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本文系统地提出集成电路测试程序的可测性设计的概念和方法.阐述了可测性设计在测试程序设计中的重要地位,指出测试程序的可测性设计给测试程序的质量控制、评估验证独辟蹊径,进一步提高了测试程序的可靠性.

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来源
《电子测量与仪器学报》|1991年第3期|8-11|共4页
作者
郭卓梁; 沈森祖;
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作者单位

中船总公司第七O九研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类设计;
关键词
集成电路; 测试程序; 可测性设计;
入库时间 2023-07-23 16:31:04

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