用微区光学方法研究GaP:ZnO红光外延片

摘要

用微区光致发光和拉曼散射光谱比较了国内外ＧａＰ：ＺｎＯ红光二极管产品的结构，在国内首先实现了用微区光学方法检测ＬＥＤ外延片并进行生产工艺的改进。对典型样品进行了微区光致发光的测试，比较外延片横截面上不同厚度层的光致发光，非常明显地看出主要发光区是在Ｐ区。通过合理扩展Ｐ层发光区的厚度相应地增加了光致发光的总光强，提高了产品的生产成品率。