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魏仁选; 姜德生;
武汉理工大学光纤传感技术研究中心国家光纤传感技术工业性实验基地;
膜系; 反射率; 干涉法; 谱宽; F-P干涉仪; 透射光谱; 多层; 透明膜; 玻璃; 测量结果;
机译:通过单色光干涉法同时测量覆盖有透明膜的物体的膜厚和表面形状
机译:通过白光干涉法同时测量覆盖有透明膜的物体的膜厚和表面形状
机译:在低相干扫描干涉法中使用光谱反射率测量来局部检查厚透明层的折射率和厚度
机译:用白光干涉法测量透明膜的厚度
机译:使用时间分辨干涉法分析和评估多层激光增益元件的热性能。
机译:用相移激光反馈干涉显微镜测量玻璃盖玻片上生长的细胞的反射率和形貌
机译:接触反射率对低相干干涉法测量隐形眼镜中心厚度的影响
机译:飞机结构材料的发射率和反射率数据的确定第1部分:铜和镍在某些日期测量总法向发射率和反射率的技术
机译:用光谱干涉法测量器件的参考装置涂层测量法用光谱干涉法测量器件的精度保证方法和生产涂膜的方法
机译:利用干涉信号的相位差进行厚度测量的方法,适合于通过对细微厚度和反射率的目标物体进行激光束干涉信号的测量来测量目标物体的厚度
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