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赵周英; 吴凤美;
南京电子器件研究所,南京大学物理系;
热退火; 相关性; 缺陷团簇; 单晶; 深能级; 缺陷;
机译:SI-GaAs中EL2组和EL6组之间的关系
机译:半绝缘GaAs中带电的EL2(+)缺陷和受体的空间相关性的实验证据
机译:DLTS和等温瞬态光谱法研究缺陷团簇状态下硅中离子注入引起的缺陷的电学特征
机译:研究碱金属卤化物簇中非金属微团簇的形成和色心型缺陷。
机译:离子淌度质谱在离子团簇研究中的应用:具有稳定大小和组成的团簇离子的研究
机译:通过正电子漂移速度瞬态测量观察到的半绝缘Gaas中的深能级缺陷EL2和EL6的电子发射
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机译:研究液体中泡沫团簇动力学的工厂
机译:控制CZ生长过程中硅单晶侧面的聚集点缺陷和氧团簇的形成
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