基于Sigma-Delta调制技术的片内正弦激励生成方法

彭智聪; 陈岚; 冯燕; 柳臻朝

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基于Sigma-Delta调制技术的片内正弦激励生成方法

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针对模拟混合信号ADC的内建自测试,研究了基于Sigma-Delta调制技术的片内正弦激励生成方法,着重对该方法软件部分的实现进行了阐述.通过设计Sigma-Delta调制器,并对输出的比特流特性进行分析,提出了满足信噪比要求的最短比特流长度选择方法,以及在该长度下的比特流序列优化方法.以12位待测ADC为例,采用该方法生成了最优比特流序列,满足了信噪比的设计要求,验证了方法的可行性.

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来源
《微电子学与计算机》 |2015年第11期|137-141|共5页
作者
彭智聪; 陈岚; 冯燕; 柳臻朝;
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作者单位

中国科学院微电子研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类微电子学、集成电路（IC）;
关键词
内建自测试; 正弦激励生成; 比特流; Sigma-Detla调制; 相干采样;

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