宽禁带Mg_xZn_(1-x)O薄膜的制备和性能研究

摘要

采用磁控溅射法,通过ZnO陶瓷靶和Mg金属靶在石英衬底上制备了MgxZn1-xO薄膜。研究了Mg原子含量对MgxZn1-xO薄膜结构和光学性能的影响。XRD测试结果表明,MgxZn1-xO薄膜在(0002)方向有明显的c轴择优取向。随着Mg原子含量的提高,薄膜由六角单相转化为六角相和立方相的混合相。MgxZn1-xO合金薄膜的透射谱表明,薄膜的透射率略有下降,但在可见光区域的平均透射率仍大于85%,吸收边逐渐蓝移,最短的吸收边为283nm。能隙宽度图表明,MgxZn1-xO薄膜的能隙宽度从3.36eV增加到4.27eV。