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陈克明;
电力总公司扬州电讯仪器厂;
可靠性; 二次击穿; 老化; 筛选; 功率器件; 晶体管;
机译:建模非正态数据:偏态正态因子模型与二次因子模型之间的关系
机译:AllnN / AIN / GaN大功率器件中的自加热:起源和对触点击穿及Ⅳ特性的影响
机译:表面产生的二次电子对大功率微波窗口击穿诱导的鞘结构的影响
机译:分会场30-CMOS和互连可靠性-栅极介电可靠性-击穿以及器件退化机制
机译:研究氧化物击穿,热载流子和NBTI对MOS器件和电路可靠性的影响。
机译:柔性纳米器件:自剥离转移可生产基于超薄聚偏二氟乙烯的柔性纳米器件(Adv。Sci。4/2017)
机译:偏阴影对CIGS光伏器件的可靠性影响:文献综述
机译:偏二氟乙烯,乙烯基溴,氟乙烯,苯硫醇和正辛硫醇的分析方法评估和验证
机译:存储系统可靠性验证程序,可靠性验证方法,可靠性验证装置及存储系统
机译:存储系统可靠性验证程序,可靠性验证方法以及可靠性验证设备和存储系统
机译:用于准备大功率二次电池的金属板,用于大功率二次电池的金属壳体以及包括该金属板的大功率二次电池
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