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陈克明;
江苏科源电器有限公司;
大功率器件; 发射极; 集电极; 击穿; 功率管; 开路; 可靠性; 整机; 烧毁; 直流;
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机译:分会场30-CMOS和互连可靠性-栅极介电可靠性-击穿以及器件退化机制
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机译:偏二氟乙烯,乙烯基溴,氟乙烯,苯硫醇和正辛硫醇的分析方法评估和验证
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