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蔡瑞仁; 李垚; 刘嵘侃;
中国科学技术大学物理系微电子实验室;
模拟集成电路国家重点实验室中国电子科技集团公司第二十四研究所;
锗硅异质结双极晶体管; 超薄基区; 能量传输模型; 基区渡越时间; 速度饱和效应;
机译:基于使用掺杂,成分和应变相关的SiGe:C载流子迁移率和弛豫时间的流体力学建模的SiGe:C HBT渡越时间分析
机译:基于物理的高注入渡越时间模型应用于SiGe HBT中的势垒效应
机译:SiGe HBT集电极结耗尽层的传输时间模型
机译:估计Al y inf> Ga 1-y inf> As HBT在高斯掺杂基区中从低到中等高注入水平的渡越时间
机译:评价非侵入性脉冲渡越时间方法学对高血压的诊断。
机译:毛细管渡越时间异质性对BOLD信号的影响
机译:用于高频微波功率放大的siGe HBT的基区优化
机译:半球形静电分析仪的出口位置和渡越时间分析
机译:具有预定Ge含量分布的SiGe基区的HBT
机译:超声波渡越时间流量计以及用于检测超声波渡越时间流量计中的故障的方法
机译:渡越时间计算程序,渡越时间计算方法和信息处理设备
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