一种锥光干涉和近光轴调制结合测量晶体电光系数的方法

摘要

提出了一种测量晶体电光系数的简易方法,即在近光轴电光调制的基础上,通过采用散射程度合适的毛玻璃,同时获得了透射光点和锥光干涉图样。根据透射光点在锥光干涉图样中的位置确定激光通过晶体后产生的相位差,并结合理论可计算出相应的电光系数。该方法对光强以及环境稳定性要求较低,所用设备简单、调节方便。用此方法测量计算了铌酸锂晶体的电光系数,与其他方法测得的结果进行了比较,并且分析估算了其误差来源及大小。结果表明该方法和其他方法相比,测量结果相差不超过5%。对测量误差进行简单分析,主要来自对相位差的判断,此误差不超过4.2%。